半導體
集成電路工藝
電阻率/PN性/少子壽命

矽棒少子寿命测试仪

  • 產品型號：HF-100DCA
  • 制造原廠：Napson Corp.

HF-100DCA是由日本Napson公司推出的矽棒少子壽命測量設備。運用接觸式的方式進行量測，可根據客戶需求進行尺寸定制化設計。


  • 行业标准的矽锭少子寿命测试系统

  • 符合日本工业规范的直接电流阳极氧化测试方法

  • 通过数字示波器采样及软件数据处理    


  • 樣品尺寸：
    請與我們聯繫確認

  • 測量範圍：
    50us~20ms
           


NAP-HF-100DCA
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