Radiant的精密納米位移測試系統是一種高性價比、緊湊的桌上型位移感測器，能夠測量壓電薄膜的表面位移和MEMs的傳動位移。PNDS是一種非常靈敏的原子力顯微鏡結構，它是測量薄膜性能的高性價比解決方案。它與Radiant的Vision測試軟體完全相容。PNDS提供的測量能力為亞微米電極尺寸，其垂直位移測試解析度優於埃級別。
Radiant的Precision NanoDisplacement精密納米位移測試系統是一種改進的原子力顯微鏡（AFM逆向壓電d33係數測量系統），用於捕獲壓電或者鐵電電容器的壓電蝴蝶曲線。它通過使用輕型杠杆來實現，其中固定雷射器將光束從與樣本表面接觸的薄懸臂梁上反射回來。反射光束擊中一個四格光電感測器，可以檢測鐳射光斑的垂直和側向位置。對於埃級別的位移，該點的位置由電壓激勵之後產生壓電效應。對於微米級位移，鐳射點對樣品所在的壓電卡盤長度的影響會產生壓電響應。PNDS向您的Radiant鐵電測試主機輸出一個信號，其中包含位移資訊。該測試儀在測試電滯回線的同時採集了位移信號，以生成壓電位移圖。
PNDS包含了AFM掃描所需的一切：舞臺，控制電子設備，探針，手冊和視頻顯微鏡。可以與Radiant精密測試系統聯繫並配有Radiant先進壓電測試軟體。PNDS提供了亞微米“點”尺寸的測量。 PNDS對於納米尺寸大小的樣品測試具有埃級別的解析度。先進的壓電測試軟體可以在自動控制下獲取多個環路，從測量中消除垂直卡盤漂移，平均環路並平滑結果。
測試功能
· 大信號位移vs電滯回線
· 小信號位移vs電容
· 剩餘位移
· 壓電疲勞與老化
