標配工作模式：接觸模式、輕敲模式、相位成像模式、抬高模式、橫向力/摩擦力模式、磁力和靜電力模式、力曲線/力譜測量
選配工作模式：Profile 線測量模式，快速獲得納米級的長距離輪廓剖面線圖
AFM 主機：一體式設計，龍門架式掃描頭結構，大理石底座
Z 軸升降裝置：馬達自動控制探針垂直趨近樣品掃描，精確定位掃描區域
樣品移動台：300×300mm 大行程二維電動樣品移動台，快速選擇感興趣的樣品區域
載物台：直徑300mm 帶真空吸附功能的超大樣品載物台
掃描器：100×100um 大範圍高精度閉環平移式壓電掃描器，標準光柵定標精度
電子學控制器：模組化的電子控制器，可終身維護及改進
輔助光學觀察系統：高倍光學定位CCD 觀測系統，即時觀察與定位探針樣品掃描區域
探針及附件：標配接觸探針、輕敲探針、標準光柵樣品及整套專業工具
防震裝置：封閉式金屬遮罩罩，氣動式減震平臺，抗干擾能力強
軟體系統：集成多種工作模式控制軟體，功能強大的分析軟體，可終身免費升級
AFM 掃描範圍：100um×100um×10um
AFM 掃描解析度：XY 向0.2nm，Z 向0.05nm
AFM 掃描速率：0.6Hz~4.34Hz
AFM 掃描角度：0~360°
樣品尺寸：Φ≤300mm，H≤20mm
樣品台移動範圍：300mm×300mm
Profile 線測量長度：1mm
輔助光學定位：10X 物鏡，1um 光學解析度
輔助相機：500 萬圖元數位CCD
減震台：氣動式減震台，減震頻率0.5Hz
噪音水準：＜0.1nm
通信介面：USB2.0/3.0
運行環境：運行於Windows98/2000/XP/7/8/10 作業系統
