測量表面紋理和粗糙度 . 使用NP-原子力顯微鏡對於半導體，玻璃和金屬的打磨和加工表面很容易掃描。由於其靈活的平台設計，治具可以保持幾乎任何樣品的形狀來創建。另外，該平台可以容納許多小的樣品可隨後以特定的順序進行成像。
樣本尺寸: 可至 200 mm X 200 mm X 20 mm
標準掃描模式: Vibrating, Non Vibrating, Phase, LFM
掃描器: 50 X 50 X 17 microns, 15 X 15 X 7 microns
光學顯像器: 可放大400X，1.5 micron解析度
掃描器及電氣: 桌上型設計
