半導體專用傅立葉變換紅外光譜儀

  • 產品型號:QS1200
  • 制造原廠:Nanometrics Inc.

Nanometrics推出QS1200臺式系統,用於半導體材料內部含量檢測,同質外延厚度測量和其他應用。

QS1200設計用於先進的半導體工廠,在矽生長和器件製造領域進行材料表徵。


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