( ! ) Notice: Undefined index: HTTP_ACCEPT_LANGUAGE in D:\wamp\www\index.php on line 4
Call Stack
#TimeMemoryFunctionLocation
10.0000153224{main}( )..\index.php:0
德技科技股份有限公司-產品信息
半導體/III-V族檢測設備
電阻率/PN性/少子壽命
非接觸式電阻率測量(Non-contact Sheet Resistance Measurement)
產品名稱: NAPSON手持式面電阻測試設備
產品型號: DUORES
製造原廠: Napson Corp.
詳細規格 聯絡我們
產品介紹:

特色:

  • NAPSON 原創的技術:可替換手持式探頭支持兩種測試方法
         (1)非接觸式探頭(渦電流測試法)
         (2)接觸式探頭(四探針測試法)
  • 探頭觸碰到樣品時就會自動開始量測
  • 可以長達24小時的量測時間
  • 最多顯示100組量測數據
  • 最多存儲50,000組測試數據
  • 可通過USB-MINI將量測數據導出
  • 量測數據顯示4位數的浮動小數點
  • 測試結果單位 : Ω/sq, s/sq, n/m

 

應用:

任意樣品只要在測試範圍內都可以進行測試(如薄膜、玻璃、紙張等)

  • 導電薄膜(ITO, TCO等)
  • LOW-E玻璃
  • 碳納米管,石墨烯材料
  • 金屬材質(納米銀線,金屬網格,金屬薄膜)
  • 其他材料