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德技科技股份有限公司-產品信息
半導體/III-V族檢測設備
電阻率/PN性/少子壽命
非接觸式電阻率測量(Non-contact Sheet Resistance Measurement)
產品名稱: Napson非接觸高精度低阻測試儀PVE-80
產品型號: PVE-80
製造原廠: Napson Corp.
詳細規格 聯絡我們
產品介紹:
  • 測量範圍:50u—1m ohm/sq
  • 測量精度:≤3%
  • 測量重複性:≤0.1%(單點20次測試)
  • 測試面積 14mm
  • 測試高度:2mm
  • 金屬膜應用:銀,銅,金,鋁或其他
  • 可搭配產線進行測試,若需詳情或免費測樣請聯繫Quatek