TRs系列是一款針對大功率IGBT/MOSFET 和二極體器件和晶片的静態特性測試系統
覆蓋8000A/10000V以內的模快測試
搭配200度高溫平臺
IGBT 測試標準遵循IEC 60747-9 edition
MOSFET 測試標準遵循 IEC 60747-8 edition 3.0
Doide 測試標準遵循IEC 60747-2 edition 3.0
可提供單獨的動態測試/靜態測試或動靜態一體測試模式
可定制測試功能選項
提供絕對的機台安全性保障
可搭配LEMSYS自身的測試平臺和各種外部機械架構
通過友好的操作介面實現無縫的資料連接和統計分析
测试项目
IGES ：Ige 0 - 10μA,Vge 0-100V
VGE(th) ：Vge 0 - 20V ,Ice 0-2A
VCEsat：Vce 0 - 10V，Ice 0-8000A
Rdson:0.1-500ohm
VF:Vf 0 - 10V，If 0.1-8000A
VCES: Ice 0.1uA-100mA ,Vce 0-10000V
ICES: Vce0 - 10000V Ice0.01 - 100mA
模块类型：单管，半桥，全桥，PIM，三电平等
