半导体耐高温可靠性测试探针卡

  • 产品型号:T40
  • 制造原厂:Celadon System, Inc.

采用Celadon的专利技术的陶瓷探头卡,能在建模部门和特性部门实现超低噪音和快速测试。
这40毫米直径的瓷砖块是专为安装在标准4.5“探针卡夹具设计的。1.6毫米(0.062)厚的槽,能让探针底架放置在里面,使得探针卡夹具可用于大多数的分析探针台。
   


  • 40毫米直径陶瓷探针卡

  • 优化了对直流参数测试和单点WLR进行的测试

  • 与标准4.5”矩形探针卡夹具兼容

  • 温度兼容范围- 65°C到300°C

  • 延伸温度范围600°C

  • 可实现fa级漏电流测量

  • 可与快速断开的三轴电缆线束兼容

  • 可兼容Quasi-Kelvin连接

  • 可连接多个端口