HF-300是由日本Napson公司推出的針對太陽能電池片的少子壽命測試儀。
微光壓法非接觸無損傷測量
適合單晶和多晶矽樣品測量
多點測量及資料圖譜影像
鈍化處理的測試腔體（用於矽片及矽塊測量）
樣品尺寸
[矽片] <方片> ~ 210x210mm, <圓片> ~8 寸
[塊體] 最大. 210(W) x 210(H) x 500(D) mm
測量範圍
0.1 μS ~ 1000μS (*相容電阻率範圍; 0.1 ~ 1,000Ω・cm)
<雷射器> 類型 : 半導體雷射器
波長 : 905nm, 峰值功率 : 60W, 脈寬: 80nS
