納米細微性分析儀

  • 產品型號:VASCO KIN
  • 制造原廠:COrdouan Technologies.

VASCO KIN™是新一代的動態時間監控測試儀,結合原位和非接觸式遠端光學探頭,可以監測即時納米粒子、凝聚或懸浮液的細微性性能以及穩定性。

 

通過單次連續測量,VASCO KIN™可以得到所有特徵資料(尺寸分佈,散射強度,相關圖譜等)。

 

主要功能和優點

頻率穩定的鐳射和無人工合成雪崩光電二極體(APD)探測器

→測量精度高

→非常低的散射樣本

嵌入式專用PC,包括軟體關聯和完整的專用軟體NanoKin®

→使用者友好的介面

→時間分辨分析和後期分析的光子計數存儲

→包含動力學分析的完整報告

增強的數學模型

→更好的結果可靠性

→隨時間推移的尺寸分佈的2D彩圖


主要規格

  • 測量原理:光纖動態光散射(DLS)

  • 測量配置:原位/非接觸式遠程探頭

  • 粒徑範圍:0.5nm至10μm*

  • 濃度範圍:高達40%wt *

  • 測量時間:從2s到12小時

  • 時間解析度:低至200ms

  • 占地面積小,無移動部件,易於在惡劣環境中集成

*取決於樣品