2D+3D混動雙面激光測試機構無死角測試
可以檢查任意印刷不良
高精度檢出
18um標準分辨率(12um分辨率可選)
高速檢查
搭載高幀頻相機性能大幅提高
與上一代機型比,M電路板縮短13.1秒,L電路板縮短26.1秒檢查時間(含輸送時間)
檢出規格
電路板尺寸 50×50mm~510×460mm(標準)
電路板厚度 0.3~4.0mm
輸送基準 操作面或內面均可(出貨時設定
輸送方向 從左到右或從右到左(出貨時設定)
輸送高度 900士25mm
檢查項目 少錫,多錫,溢出,重心偏移,橋連,體積,斷面積,突起部面積,平均高度,峰值高度
最小鄰接距離 0.08mm鄰接部印刷高度差小于50um
最小檢出元件腳間距 0.15mm,CSP,0402元件(單位mm)
處理能力 7000mm2/sec(標準)
系統規格
相機分辨率 標準高速18um像素,高精度9um像素(軟體切換)
照明 2D:360度全景2段RGB/3D:線型照明
檢查程序做成gebe據接變換
電源 AC100V10%1.5k單相(50/60H)
壓縮空氣 0.4-0.5mpa10NI/min
設備尺寸 W1100×D1200×H1550mm(不含信號燈)
重量約400kg
可選功能
①L=750mm對應(2分割檢查對應)
②1D,2D條碼對應
③統計解析軟體SPC
④離線編程