English
简体中文
PG300WT是由Pegasus最新研究開發的一款半導體矽晶圓厚度的測量設備。該設備採用了高精度非接觸電容式探頭,可對樣品進行無損及快速的厚度測量。通過觸控面板控制及設定參數,設備內建軟體可計算多點厚度,及5點TTV等功能。
特點:
· 觸控面板操作,並顯示測量結果
· 可支持5點及TTV厚度測試功能
· 可支持測量矽棒切片,蝕刻片,
研磨片,拋光片及帶有圖形的矽片
· 無需無塵室級別即可測量
· 桌上型設計,簡潔且便於操作使用
主要測量材料:
·矽片 Si
·碳化矽 SiC
·鍺 Ge
·磷化銦 InP
·砷化鎵 GaAs
·氮化鎵 GaN