減反射膜反射率/穿透率測量系統

產品型號	GS-1290-NED-1	GS-1290-NED-2	GS-1290-NED- 2UV	GS-1290-NED-3
光譜範圍(標稱)	200-800 nm (200-800 nm石英光學)	350-1100 nm	200-1100 nm	360-800 nm
波長分辨率	0.6 nm/元素	0.9 nm/元素	0.9 nm/元素	0.6 nm/元素
光譜帶寬 (基於用戶選擇半功率帶寬) (半功率波束寬度) (粗體表示工廠設置)	10 nm 5.0 nm 2.5 nm 1.8 nm 1.2 nm	20 nm 10 nm 5.0 nm 2.7 nm 1.8 nm	20 nm 10 nm 5.0 nm 2.7 nm 1.8 nm	10 nm 5.0 nm 2.5 nm 1.4 nm 1.0 nm
波長重複性	0.02 nm	0.03 nm	0.03 nm	0.02 nm
波長精度	±0.20 nm	±0.20 nm	±0.20 nm	±0.20 nm
雜散光	少於1 x 10‐4 (HeNe激光線8倍的半功率波束寬度)
^極化誤差	少於1%
測量角度	5°, 2°, 1°, 0.5°, 0.3°, 0.1° (用戶可選)
累積時間	0.008到520秒
計算機接口	USB 2.0
控制軟件	CIE 1931 XYZ 和 xy; CIE 1976 UCS 紫外線; CIE 1976 Luv* 和 Lab*; CIE 1964 XYZ
運行溫度/濕度	5° - 35°C / 相對濕度 0 - 90%, 無冷凝
尺寸	12.1" 長 x 6" 寬 x 11.8" 高 (30.8 cm 長 x 15.1 cm 寬 x 29.9 cm 高)
重量	20磅 (4.6 公斤)
功率	電源適配器 (100‐240 伏 ~, 50‐60 赫茲)

GAM/191 series