半导体
集成电路工艺
电阻率/PN性/少子寿命

非接触式超高量程面电阻测量系统

  • 产品型号：CRN-100
  • 制造原厂：Napson Corp.

  • 非接触式超高面电阻测量10E+9  ~ 10E+15 ohm/sq 

  • 可编程测试点位软件：
    1.可编程多点测试
    2.2-D和3-D测试数据图谱

  • 基于Windows7的测试软件

  • 测试数据可导出.CSV格式

  • 测量不受接触电阻影响    


  • 样品尺寸
    大小 : 最大 300 x 400 mm (或更大)
    厚度 : 最大 2 mm

    可根据客户需求特殊设计

  • 测量范围
    10E+9 ~ 10E+15 ohm/sq    


NAP-CRN-100
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