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高测试速度及稳定性
高精度dual config测量方式,具备自我测试功能
适合测量太阳能硅片扩散层,兼容厚度为100µm ~ 5 mm
X-Y轴可编程多点测试,位移解析度0.1um,2-D/3-D测量数据图谱
样品尺寸:最大可支持156 x 156 mm
测量范围:1m ohm/sq ~ 10,000k (10M )ohm/sq