Napson所有四探針電阻率測試儀所搭載的測試探頭全是由英國Jadel公司為Napson定制，具有非常良好的測量穩定性。
Napson的高性能四探針探頭是由英國Jandel公司提供Jandel探頭針對矽片，外延層，擴散層，ITO層，金屬層及其他薄膜層提供高精度面電阻和電阻率測量，並且通過多年市場驗證。
根據不同應用及待測樣品，選擇不同型號的探頭使用。
探針材料: TC [碳鎢合金] (或 OS: 鋨合金)
半徑: 40 um (25 um 至 500 um)
載重 (g/針): 200ｇ (10g 至 250g)
針間距: 1.00 mm (0.5 mm 至 1.59 mm)
針排列方式: 直線 (標準) (方形可選)
