CRN-100是由日本Napson公司自行研製推出的非接觸式超高量程面電阻量測設備，它主要運用了非接觸式的電暈放電原理進行測量。
非接觸式超高面電阻測量10E+9 ~ 10E+15 ohm/sq
可程式設計測試點位元軟體：
1.可程式設計多點測試
2.2-D和3-D測試資料圖譜
基於Windows7的測試軟體
測試資料可匯出.CSV格式
測量不受接觸電阻影響
樣品尺寸
大小 : 最大 300 x 400 mm (或更大)
厚度 : 最大 2 mm
可根據客戶需求特殊設計
測量範圍
10E+9 ~ 10E+15 ohm/sq
