半导体
集成电路工艺
电阻率/PN性/少子寿命

接触式PN极性测试仪

  • 产品型号：PN-12α
  • 制造原厂：Napson Corp.

  • 测量探头由冷热两个电极组成

  • 可测试各种类型样品，如单晶硅片，硅锭，硅棒等

  • 两种类型探头可选:
    1) 冷热探头分离式
    2) 冷热探头组合式    


  • 样品尺寸：
    大于2寸

  • 测量范围：

  • 可测试PN极性的样品电阻率范围: 1m~20k Ω・cm

  • 多晶硅，硅衬底上的薄膜，硅衬底上的氧化薄膜不能测试    


NAP-PN-12α
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