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测量原理:脉冲光激发光电效应
非破坏无沾污
可测量硅表面带氧化层
通过脉冲光照快速判断
样品尺寸:大于 30x30mm
测量范围:
可测试PN极性的样品电阻率范围: 0.1~1,000 Ω・cm