高级微区光谱反射仪

  • 产品型号:FilmTek 2000M
  • 制造原厂:Scientific Computing International
  • 基于显微镜的桌面系统

  • 在400nm-950nm波长范围内测量表面法线方向的光谱反射

  • 非接触式测量,光斑尺寸降至10um

  • 在可见光范围内显示灵敏度的薄膜的厚度,n(l),k(l),能带隙和多层的测量

  • 手动X-Y平台,带有6“×6”运动的旋钮
           


  • 薄膜厚度范围:5nm至350μm(5nm至150μm是标准)

  • 薄膜厚度精度:NIST可溯源标准氧化物的±1.5Å1000Å至1μm

  • CD精度(1σ):<0.2%

  • 光谱范围:380nm至1700nm(380nm至1000nm是标准)

  • 测量光斑尺寸:2μm(5×10μm标准,10倍物镜)

  • 样品尺寸:2mm至300mm(150mm为标准)

  • 光谱分辨率:0.3-2nm

  • 光源:稳定卤素灯(寿命2,000小时)

  • 检测器类型:2048像素索尼线性CCD阵列/  512像素冷却的滨松InGaAs CCD阵列(NIR)